JT-60能動粒子線用電源の構成とサージ電流の抑制

渡部 和弘; 伊藤 孝雄; 金井 丈雄*; 松岡 守; 松田 慎三郎; 蔀 守正; 塚原 美光; 薄井 勝富

JAERI-M 86-104, 53 Pages, 1986/07

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JT-60プラズマ中心部のイオン温度測定に能動粒子線計測法が用いられる。能動粒子線源として200keV、3.5A、0.1秒という高エネルギ-でか大電流のヘリウムイオンビ-ム発生装置を開発した。JT-60へ装着するに先立ち、能動粒子線試験室に本装置を建設し開発試験および改良を行なった結果、定格出力のビ-ムを繰り返して安定に得られるようになった。本報告では、まず、本装置の電源システムの構成を示す。次にイオン源放電破壊時に発生するサ-ジ電圧の伝播による電源システムの誤動作に関する防止対策について述べる。さらに、ビ-ムを繰り返し安定に得る為に実施したサ-ジ電流低減策について、サ-ジ測定とシュミレ-ションとの対比を踏まえながら述べる。最後に、JT-60へ装着時のサ-ジ伝播をシュミレ-ションによって検討したので併せて記述する。